 
             产品概述
                    产品概述
                     规格参数
                    规格参数
                    IMS5400-TH45
Micro-Epsilon
用于稳定厚度测量的白光干涉仪
白光干涉仪
厚度
840 nm
0.035 to 1.4 mm
NIR-SLED,波长840 nm
10 W
24 VDC ±15 %
以太网,EtherCAT,RS422,PROFINET,EtherNet/IP
5 to 70 摄氏度
-20 to 70 摄氏度
厚度测量
 产品应用
                  产品应用
                   产品特征
                  产品特征
                   产品详细描述
                  产品详细描述
                   企业介绍
                  企业介绍
                  