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IMS5400-TH45

IMS5400-TH45

  • 请咨询
  • Micro-Epsilon
  • 干涉仪
  • 德国
  • 2025-09-16
  • 产品概述
    IMS5400-TH45是一款由Micro-Epsilon制造的先进白光干涉仪,专为工业环境中的厚度测量而设计。其测量范围从0.035毫米到1.4毫米,适用于各种材料,包括薄层和光学涂层。该设备采用840 nm波长的NIR-SLED光源,能够提供高精度的测量结果。其独特的距离无关测量特性,使得在测量过程中目标的移动不会影响到测量的准确性。此外,IMS5400-TH45还具备多种接口选项,方便与现代工业自动化系统集成。该干涉仪的设计考虑了环境适应性,能够在不同的工作和存储温度下正常运行,是工业厚度测量的理想选择。
  • 规格参数

    产品详情

    • 部件编号:

      IMS5400-TH45

    • 制造商:

      Micro-Epsilon

    • 描述:

      用于稳定厚度测量的白光干涉仪

    通用参数

    • 类型:

      白光干涉仪

    • 测量类型:

      厚度

    • 波长:

      840 nm

    • 测量长度:

      0.035 to 1.4 mm

    • 激光源:

      NIR-SLED,波长840 nm

    • 功耗:

      10 W

    • 电源:

      24 VDC ±15 %

    连接与接口

    • 接口:

      以太网,EtherCAT,RS422,PROFINET,EtherNet/IP

    环境条件

    • 工作温度:

      5 to 70 摄氏度

    • 存储温度:

      -20 to 70 摄氏度

    应用

    • 应用:

      厚度测量

  • 产品应用
    1. 厚度测量
  • 产品特征
    1. 高精度测量 2. 距离无关的测量
  • 产品详细描述
    用于稳定厚度测量的白光干涉仪
  • 企业介绍

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光电

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