光电产品采购就上光电之家
SID4 UV HR
PHASICS
190 nm - 400 nm, UV 波前传感器,用于表面检测应用
高分辨率
四波长侧切干涉(QWLSI),侧切干涉
190 to 400 nm
20 nm RMS
15 fps
USB 3.0
13.3 mm x 13.3 mm
2 nm RMS
实时 3 fps
512 x 512
26 µm
80.3 x 78.6 x 108.2 mm3
600 g
激光行业,天文学,半导体,航空航天
马上登录 或注册,即可保存询价历史