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FPA-320x256-K-TE2

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FPA-320x256-K-TE2

价格 请咨询
品牌 Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)
分类短波红外传感器
产地中国台湾
更新日期 2025-09-21

产品概述

FPA-320x256-K-TE2是一款高性能的近红外成像传感器，专为天文学和科学应用设计。其光谱范围覆盖0.9 µm至1.7 µm，能够提供清晰的图像和高量子效率，适合多种应用场景，如隐蔽监视和无损检测等。该传感器具有超过99%的填充因子，确保了在不同光照条件下的良好表现。FPA-320x256-K-TE2还配备了双级热电冷却系统，使其在高温环境下也能稳定工作。凭借其出色的探测率和低暗电流，该传感器在医学科学、工业热成像等领域也展现出广泛的应用潜力。
规格参数
产品细节
- 部件编号:
  FPA-320x256-K-TE2
- 制造商:
  Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)
- 描述:
  0.9 µm到1.7 µm，InGaAs/InP近红外成像传感器，适用于天文学和科学应用
通用参数
- SWIR类型:
  InGaAs SWIR传感器
- 传感器技术:
  标准InGaAs/InP
- 总像素数:
  320(H)x256(V)像素
- 传感器类型:
  区域扫描传感器
- 暗电流:
  = 0.4 pA
- 像素大小(H x V):
  30 x 30 µm
- 像素间距:
  30 µm
- 冷却:
  双级TE冷却
- 图像尺寸:
  9.6 x 7.68 mm
- 封装类型:
  DIP
- 封装:
  28针金属DIP封装
- 阵列可操作性:
  > 99 %(像素)
- 探测率:
  > 5x1012 Jones
- 填充因子 ::
  >99%
- 满井容量:
  3.5M e到170K e
- 最大像素速率:
  10 MHz
- 百万像素:
  0.08 MP
- 无校正的不均匀性:
  = 10%
- 功耗:
  175 mW
- 量子效率 ::
  > 70%
- 分辨率:
  320 (H) x 256 (V)
- 光谱响应范围:
  0.9到1.7 µm
应用
- 应用:
  近红外成像、成像光谱学、隐蔽监视、无损检测、医学科学与生物学、天文学与科学、工业热成像、湿度映射
物理特性
- 重量:
  25.6g
环境条件
- 工作温度:
  -20到85摄氏度
- 存储温度:
  -40到85摄氏度
产品应用

1. 近红外成像 2. 成像光谱学 3. 隐蔽监视 4. 无损检测 5. 医学科学与生物学 6. 天文学与科学 7. 工业热成像 8. 湿度映射
产品特征

1. 高量子效率（>70%） 2. 填充因子超过99% 3. 双级热电冷却 4. 最大像素速率为10 MHz 5. 低暗电流（=0.4 pA） 6. 高探测率（>5x1012 Jones）
产品详细描述

这是一个适用于天文学和科学应用的0.9 µm到1.7 µm的InGaAs/InP近红外成像传感器。
企业介绍

中华领先光电科技 (CLPT) 是一家位于台湾的光电技术公司，隶属于中华电信。该公司专注于InGaAs光电探测器的开发，凭借其先进的晶圆加工和设备封装技术，提供高品质的光电产品。CLPT 的产品包括适用于光功率测量的1mm至3mm大面积光电二极管，以及用于短波红外成像的二维焦平面阵列。其高质量、高产量和高可靠性使其在光电行业中占据了一席之地。

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