FPA-320x256-K-TE2短波红外传感器实物图(Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)制造)

FPA-320x256-K-TE2

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FPA-320x256-K-TE2是Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)推出的一款InGaAs/InP近红外成像传感器,光谱范围为0.9 µm至1.7 µm。该传感器的量子效率超过70%(在1 µm - 1.6 µm范围内),图像格式为320(H)x 256(V)。其图像尺寸为9.6 mm(H)x 7.68 mm(V),像素间距为30 µm x 30 µm,填充因子超过99%,最大像素速率为10 MHz。

FPA-320x256-K-TE2产品详细说明

产品细节

  • 部件编号
    FPA-320x256-K-TE2
  • 制造商
    Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)
  • 描述
    0.9 µm到1.7 µm,InGaAs/InP近红外成像传感器,适用于天文学和科学应用

通用参数

  • SWIR类型
    InGaAs SWIR传感器
  • 传感器技术
    标准InGaAs/InP
  • 总像素数
    320(H)x256(V)像素
  • 传感器类型
    区域扫描传感器
  • 暗电流
    = 0.4 pA
  • 像素大小(H x V)
    30 x 30 µm
  • 像素间距
    30 µm
  • 冷却
    双级TE冷却
  • 图像尺寸
    9.6 x 7.68 mm
  • 封装类型
    DIP
  • 封装
    28针金属DIP封装
  • 阵列可操作性
    > 99 %(像素)
  • 探测率
    > 5x1012 Jones
  • 填充因子 :
    >99%
  • 满井容量
    3.5M e到170K e
  • 最大像素速率
    10 MHz
  • 百万像素
    0.08 MP
  • 无校正的不均匀性
    = 10%
  • 功耗
    175 mW
  • 量子效率 :
    > 70%
  • 分辨率
    320 (H) x 256 (V)
  • 光谱响应范围
    0.9到1.7 µm

应用

  • 应用
    近红外成像、成像光谱学、隐蔽监视、无损检测、医学科学与生物学、天文学与科学、工业热成像、湿度映射

物理特性

  • 重量
    25.6g

环境条件

  • 工作温度
    -20到85摄氏度
  • 存储温度
    -40到85摄氏度

总结

  • 产品概述
    FPA-320x256-K-TE2是一款高性能的近红外成像传感器,专为天文学和科学应用设计。其光谱范围覆盖0.9 µm至1.7 µm,能够提供清晰的图像和高量子效率,适合多种应用场景,如隐蔽监视和无损检测等。该传感器具有超过99%的填充因子,确保了在不同光照条件下的良好表现。FPA-320x256-K-TE2还配备了双级热电冷却系统,使其在高温环境下也能稳定工作。凭借其出色的探测率和低暗电流,该传感器在医学科学、工业热成像等领域也展现出广泛的应用潜力。

技术文档