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LDA1024P12.5S-17-T1

LDA1024P12.5S-17-T1

  • 产品概述
    LDA1024P12.5S-17-T1是一款高性能的InGaAs NIR线性图像传感器,专为短波红外成像应用而设计。它的光谱响应范围从0.9 µm到1.7 µm,能够提供高达1024 x 1的像素阵列,确保了出色的成像质量和高像素可操作性。该传感器的量子效率在1550 nm时超过70%,使其在各种成像应用中表现卓越。其暗电流范围为30到300 fA,读出噪声低至0.25 mV,确保了在低光条件下的可靠性能。此外,LDA1024P12.5S-17-T1采用热电冷却技术,能够在-40到70摄氏度的工作环境下稳定运行,适用于半导体检测、过程监控及分类回收等多种应用场景。
  • 规格参数

    产品详情

    • 部件编号:

      LDA1024P12.5S-17-T1

    • 制造商:

      Chunghwa Leading Photonics Tech (CLPT)

    • 描述:

      0.9 µm - 1.7 µm, InGaAs NIR线性图像传感器,用于短波红外成像应用

    通用参数

    • SWIR类型:

      InGaAs SWIR传感器

    • 传感器技术:

      平面InGaAs PIN

    • 总像素数:

      1024 x 1 像素

    • 传感器类型:

      线性扫描传感器

    • 暗电流:

      30到300 fA

    • 像素大小(高 x 宽):

      12.5 x 12.5 µm

    • 像素间距:

      12.5 µm

    • 冷却:

      热电冷却

    • 封装类型:

      DIP

    • 封装:

      28引脚金属DIP封装

    • 阵列可操作性:

      > 99 %(像素)

    • 最大像素率:

      22 MHz

    • 无修正的不均匀性:

      = 5 %

    • 输出信号摆幅:

      > 2.0 V

    • 功耗:

      190 mW

    • 量子效率:

      > 70 %

    • 读出噪声:

      0.25到1.2 mV

    • 饱和电荷:

      0.076到25 µV/e(电荷容量)

    • 光谱响应范围:

      0.9到1.7 µm

    应用

    • 应用:

      短波红外成像,超光谱/多光谱成像,半导体检测/过程监控,分类回收

    物理特性

    • 尺寸:

      50.00 x 25.40 x 11.67 mm(长 x 宽 x 高)

    • 重量:

      25.9 g

    环境条件

    • 工作温度:

      -40到70摄氏度

    • 存储温度:

      -40到70摄氏度

    接口与控制

    • 输出接口:

      SPI

  • 产品应用
    1. 短波红外成像 2. 超光谱/多光谱成像 3. 半导体检测/过程监控 4. 分类回收
  • 产品特征
    1. 具有高像素可操作性 2. 量子效率超过70% 3. 热电冷却设计 4. 支持SPI接口
  • 产品详细描述
    这是一个用于短波红外成像应用的0.9 µm - 1.7 µm InGaAs NIR线性图像传感器。
  • 企业介绍
    中华领先光电科技 (CLPT) 是一家位于台湾的光电技术公司,隶属于中华电信。该公司专注于InGaAs光电探测器的开发,凭借其先进的晶圆加工和设备封装技术,提供高品质的光电产品。CLPT 的产品包括适用于光功率测量的1mm至3mm大面积光电二极管,以及用于短波红外成像的二维焦平面阵列。其高质量、高产量和高可靠性使其在光电行业中占据了一席之地。

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光电

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