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2030XL PRO

2030XL PRO

  • 产品概述
    CRAIC Technologies的2030XL PRO显微分光光度计是一款功能强大的设备,专门设计用于在200 nm到2500 nm的波长范围内进行非破坏性测量。它适合多种应用,包括半导体薄膜厚度测量、MEMS设备评估及光伏面板的测试。这款显微分光光度计不仅能提供高质量的光谱数据,还能够快速获取图像和薄膜厚度信息,极大地提高了实验室的工作效率。得益于其先进的照明系统和冷却探测器,2030XL PRO能够精确测量大型平面显示器的颜色变化,满足现代光电行业的需求。
  • 规格参数

    产品详情

    • 部件编号:

      2030XL PRO

    • 制造商:

      CRAIC Technologies, Inc.

    • 描述:

      200 nm - 2500 nm,UV-VIS-NIR显微分光光度计

    应用

    • 应用:

      半导体薄膜厚度,MEMS设备,光伏面板,平面显示器的色彩测量,平面显示器的强度映射,质疑文件的微光谱,艺术作品的微光谱

    通用参数

    • 测量技术:

      拉曼光谱,透射,反射,UV光谱,VIS光谱,NIR光谱

    • 光谱仪类型:

      台式

    • 波长范围:

      200至2500 nm

    • 光谱带:

      UV-VIS-NIR

  • 产品应用
    1. 半导体薄膜厚度 2. MEMS设备 3. 光伏面板 4. 平面显示器的色彩测量 5. 平面显示器的强度映射 6. 质疑文件的微光谱 7. 艺术作品的微光谱
  • 产品特征
    1. 工作波长范围广 2. 非破坏性测量 3. 高速性能 4. 手动或自动操作 5. 集成TE冷却探测器 6. 适用于多种应用
  • 产品详细描述
    200 nm - 2500 nm,UV-VIS-NIR显微分光光度计
  • 企业介绍
    CRAIC Technologies, Inc. 是一家位于美国的高科技公司,专注于开发和制造微光谱仪及相关光学工具。自成立以来,CRAIC 一直致力于为科学和工业领域提供高性能的光学解决方案,尤其在紫外线、可见光和近红外区域的应用方面有着显著优势。其微光谱仪可以对微米级别的样本进行高精度光谱分析,广泛应用于科学研究、工业检测、材料分析和生物医学等领域。凭借其先进的技术和精湛的工艺,CRAIC Technologies 受到了众多科研机构和企业的青睐,是光电行业中值得信赖的合作伙伴。

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